公司依托专业的测试技术团队与先进的软硬件设备，构建了覆盖芯片全生命周期的一体化测试能力体系，可为数字芯片、模拟芯片、混合信号芯片及特种定制芯片等多品类产品，提供全流程的测试解决方案。

其中DL1000集成电路测试系统，采用机柜加电缆结构的设计可兼容各种类型的机械手、探针台以及其他仪表设备，DL1000测试系统可以测试数字信号芯片、模拟信号芯片，混合信号芯片等IC器件。

STS6100 数字集成电路测试系统是一个计算机辅助的、具有高度模块化结构的新型集成电路综合测试系统。该系统以数字集成电路测试模块为核心，可快速、精确、全面的对各类大、中、小规模的随机逻辑数字集成电路和各类通用存贮器 IC；主要测量和测试内容为被测器件的直流参数、动态功能及交流参数。

高低温试验箱在芯片测试中，模拟芯片在极端温度环境下的工作状态，验证亓性能稳定性、功能可靠性与环境适应性，确保芯片在实际应用场景中能正常运行。